热胀冷缩与结构损坏:
温度剧烈变化会导致元件各部分材料的膨胀系数不同,从而产生内应力。例如,芯片封装与内部硅片的热膨胀系数差异可能导致焊点开裂(如 BGA 焊点失效),长期使用中可能引发功能失效。
性能漂移:
温度变化会影响元件的电气参数。如电阻值随温度波动(热敏电阻除外)、电容的介电常数改变、晶体振荡器的频率偏移等,导致电路性能不稳定。
加速老化:
高温会加速元件内部材料的化学反应(如塑料老化、电解电容电解液挥发),缩短使用寿命。例如,电解电容在高温下的寿命可能大幅缩短至正常情况的 1/2 甚至 1/3。